Current imaging tunneling spectroscopy of metallic deposits on silicon

  1. Asenjo, A.
  2. Gómez-Rodríguez, J.M.
  3. Baró, A.M.
Revista:
Ultramicroscopy

ISSN: 0304-3991

Año de publicación: 1992

Volumen: 42-44

Número: PART 1

Páginas: 933-939

Tipo: Artículo

DOI: 10.1016/0304-3991(92)90381-S GOOGLE SCHOLAR
Fuente de los datos: Scopus