Reliability Analysis of ASIC Designs with Xilinx SRAM-Based FPGAs

  1. Aranda, L.A.
  2. Ruano, O.
  3. Garcia-Herrero, F.
  4. Maestro, J.A.
Revista:
IEEE Access

ISSN: 2169-3536

Año de publicación: 2021

Volumen: 9

Páginas: 140676-140685

Tipo: Artículo

DOI: 10.1109/ACCESS.2021.3119633 GOOGLE SCHOLAR lock_openAcceso abierto editor