Extended symbol correction algorithm for group testing based non-binary error correction codes of minimum distance dq < 5

  1. Garcia-Herrero, F.
  2. Sánchez-Macián, A.
  3. Maestro, J.A.
  4. Flanagan, M.F.
Revista:
Microelectronics Reliability

ISSN: 0026-2714

Año de publicación: 2020

Volumen: 113

Tipo: Artículo

DOI: 10.1016/J.MICROREL.2020.113724 GOOGLE SCHOLAR
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