Seu and Sefi error detection and correction on a ddr3 memory system

  1. Cóbreces, A.
  2. Regadío, A.
  3. Tabero, J.
  4. Reviriego, P.
  5. Sánchez-Macian, A.
  6. Maestro, J.A.
Revista:
Microelectronics Reliability

ISSN: 0026-2714

Any de publicació: 2018

Volum: 91

Pàgines: 23-30

Tipus: Article

DOI: 10.1016/J.MICROREL.2018.08.002 GOOGLE SCHOLAR
Font de les dades: Scopus