Seu and Sefi error detection and correction on a ddr3 memory system

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Revista:
Microelectronics Reliability

ISSN: 0026-2714

Año de publicación: 2018

Volumen: 91

Páginas: 23-30

Tipo: Artículo

DOI: 10.1016/J.MICROREL.2018.08.002 GOOGLE SCHOLAR
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