A method to recover critical bits under a double error in SEC-DED protected memories

  1. Liu, S.
  2. Reviriego, P.
  3. Xiao, L.
  4. Maestro, J.A.
Revista:
Microelectronics Reliability

ISSN: 0026-2714

Año de publicación: 2017

Volumen: 73

Páginas: 92-96

Tipo: Carta

DOI: 10.1016/J.MICROREL.2017.04.020 GOOGLE SCHOLAR
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