A (64,45) triple error correction code for memory applications

  1. Reviriego, P.
  2. Flanagan, M.
  3. Maestro, J.A.
Revista:
IEEE Transactions on Device and Materials Reliability

ISSN: 1530-4388,  1558-2574

Año de publicación: 2012

Volumen: 12

Número: 1

Páginas: 101-106

Tipo: Artículo

DOI: 10.1109/TDMR.2011.2169413 GOOGLE SCHOLAR

Objetivos de desarrollo sostenible

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