Efficient majority logic fault detection with difference-set codes for memory applications

  1. Liu, S.-F.
  2. Reviriego, P.
  3. Maestro, J.A.
Revista:
IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems

ISSN: 1063-8210

Ano de publicación: 2012

Volume: 20

Número: 1

Páxinas: 148-156

Tipo: Artigo

DOI: 10.1109/TVLSI.2010.2091432 GOOGLE SCHOLAR
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