Validation and optimization of TMR protections for circuits in radiation environments

  1. Ruano, O.
  2. Maestro, J.A.
  3. Reviriego, P.
Actes:
Proceedings of the 2011 IEEE Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, DDECS 2011

ISBN: 9781424497560

Any de publicació: 2011

Pàgines: 399-400

Tipus: Aportació congrés

DOI: 10.1109/DDECS.2011.5783120 GOOGLE SCHOLAR
Font de les dades: Scopus