A methodology for automatic insertion of selective TMR in digital circuits affected by SEUs
- Ruano, O.
- Maestro, J.A.
- Reviriego, P.
ISSN: 0018-9499
Datum der Publikation: 2009
Ausgabe: 56
Nummer: 4
Seiten: 2091-2102
Art: Konferenz-Beitrag
ISSN: 0018-9499
Datum der Publikation: 2009
Ausgabe: 56
Nummer: 4
Seiten: 2091-2102
Art: Konferenz-Beitrag