A methodology for automatic insertion of selective TMR in digital circuits affected by SEUs

  1. Ruano, O.
  2. Maestro, J.A.
  3. Reviriego, P.
Aldizkaria:
IEEE Transactions on Nuclear Science

ISSN: 0018-9499

Argitalpen urtea: 2009

Alea: 56

Zenbakia: 4

Orrialdeak: 2091-2102

Mota: Biltzar ekarpena

DOI: 10.1109/TNS.2009.2014563 GOOGLE SCHOLAR
Datuen iturria: Scopus