Estimadores de mínima phi-divergencia en modelos loglineales con modelos de muestreo complejoaplicación para el modelo de Althman y Cohen
-
1
Universidad Complutense de Madrid
info
-
2
Universidad Carlos III de Madrid
info
- Mateu, Jorge (coord.)
Editorial: Universitat Jaume I
ISBN: 978-84-8021-957-0
Año de publicación: 2013
Páginas: 64
Congreso: Jornadas de Estadística Pública (8. 2013. Castellón)
Tipo: Aportación congreso