Compositional mapping of surfaces in atomic force microscopy by excitation of the second normal mode of the microcantilever

  1. Rodríguez, T.R.
  2. García, R.
Revista:
Applied Physics Letters

ISSN: 0003-6951

Any de publicació: 2004

Volum: 84

Número: 3

Pàgines: 449-451

Tipus: Article

DOI: 10.1063/1.1642273 GOOGLE SCHOLAR
Font de les dades: Scopus