SEE sensitivity of a COTS 28-nm SRAM-based FPGA under thermal neutrons and different incident angles
- Fabero, J.C.
- Korkian, G.
- Franco, F.J.
- Hubert, G.
- Mecha, H.
- Letiche, M.
- Clemente, J.A.
Revista:
Microprocessors and Microsystems
ISSN: 0141-9331
Any de publicació: 2023
Volum: 96
Tipus: Article