EXAFS and XRD characterization of iron thin films prepared by sputtering at very low temperatures

  1. Jiménez-Villacorta, F.
  2. Muñoz-Martín, A.
  3. Vila, M.
  4. Prieto, C.
  5. Traverse, A.
Actas:
Physica Scripta T

ISSN: 0281-1847

Año de publicación: 2005

Volumen: T115

Páginas: 450-453

Tipo: Artículo

DOI: 10.1238/PHYSICA.TOPICAL.115A00450 GOOGLE SCHOLAR lock_openAcceso abierto editor
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