High energy X-ray diffraction analysis of strain and residual stress in silicon nitride ceramic diffusion bonds

  1. Vila, M.
  2. Prieto, C.
  3. Miranzo, P.
  4. Osendi, M.I.
  5. Terry, A.E.
  6. Vaughan, G.B.M.
Revista:
Nuclear Instruments and Methods in Physics Research, Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms

ISSN: 0168-583X

Any de publicació: 2005

Volum: 238

Número: 1-4

Pàgines: 119-123

Tipus: Aportació congrés

DOI: 10.1016/J.NIMB.2005.06.030 GOOGLE SCHOLAR

Objectius de Desenvolupament Sostenible

Font de les dades: Scopus