Experimental determination of residual stress in silicon nitride diffusion bonds obtained by high-energy X-ray diffraction

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  7. Vaughan, G.
Zeitschrift:
Powder Technology

ISSN: 0032-5910

Datum der Publikation: 2004

Ausgabe: 148

Nummer: 1

Seiten: 60-63

Art: Konferenz-Beitrag

DOI: 10.1016/J.POWTEC.2004.09.035 GOOGLE SCHOLAR
Datenquelle: Scopus