Experimental determination of residual stress in silicon nitride diffusion bonds obtained by high-energy X-ray diffraction

  1. Vila, M.
  2. Martínez, M.L.
  3. Prieto, C.
  4. Miranzo, P.
  5. Osendi, M.I.
  6. Terry, A.
  7. Vaughan, G.
Revista:
Powder Technology

ISSN: 0032-5910

Ano de publicación: 2004

Volume: 148

Número: 1

Páxinas: 60-63

Tipo: Achega congreso

DOI: 10.1016/J.POWTEC.2004.09.035 GOOGLE SCHOLAR
Fonte de datos: Scopus