Robust inference for nondestructive one-shot device testing under step-stress model with exponential lifetimes

  1. Balakrishnan, N.
  2. Castilla, E.
  3. Jaenada, M.
  4. Pardo, L.
Revista:
Quality and Reliability Engineering International

ISSN: 1099-1638,  0748-8017

Año de publicación: 2023

Volumen: 39

Número: 4

Páginas: 1192-1222

Tipo: Artículo

DOI: 10.1002/QRE.3287 GOOGLE SCHOLAR lock_openAcceso abierto editor
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