Framework-supported mechanism of testing algorithms for assessing memory and detecting disorientation from IoT sensors
- Garcia-Magarino, Ivan
- Cardenas, Marlon
- Gomez-Sanz, Jorge
- Perez Diez, Juan L.
ISBN: 978-1-5386-4980-0
Any de publicació: 2019
Pàgines: 899-904
Congrés: 5th IEEE World Forum on Internet of Things (IEEE WF-IoT)
Tipus: Aportació congrés