High-level allocation to minimize internal hardware wastage

  1. Molina, MC
  2. Mendias, JM
  3. Hermida, R
Llibre:
DESIGN, AUTOMATION AND TEST IN EUROPE CONFERENCE AND EXHIBITION, PROCEEDINGS

ISBN: 0-7695-1870-2

Any de publicació: 2003

Pàgines: 264-269

Congrés: Design, Automation and Test in Europe Conference and Exhibition (DATE 03)

Tipus: Aportació congrés

GOOGLE SCHOLAR
Fuente de los datos: WoS