Noise studies of driven geometric phase gates with trapped ions

  1. Lemmer, A.
  2. Plenio, M. B.
  3. Bermudez, A.
Col·lecció de llibres:
ION TRAPS FOR TOMORROW'S APPLICATIONS
  1. Knoop, M (coord.)
  2. Marzoli, I (coord.)
  3. Morigi, G (coord.)

ISSN: 0074-784X

ISBN: 978-1-61499-526-5,  978-1-61499-525-8

Any de publicació: 2015

Volum: 189

Pàgines: 229-244

Congrés: 189th International-School-of-Physics-Enrico-Fermi-of-the-Italian-Physical-Society on Ion Traps for Tomorrow's Applications

Tipus: Aportació congrés

DOI: 10.3254/978-1-61499-526-5-229 GOOGLE SCHOLAR
Fuente de los datos: WoS