Temperature and damping effects on the frequency dependence of electrostatic force microscopy force gradients

  1. Arinero, R.
  2. Trasobares, J.
  3. Girard, P.
  4. Ramonda, M.
  5. Clément, N.
Revista:
Journal of Applied Physics

ISSN: 0021-8979

Año de publicación: 2013

Volumen: 114

Número: 21

Tipo: Artículo

DOI: 10.1063/1.4843835 GOOGLE SCHOLAR
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