Non-destructive one-shot device test under step-stress experiment with lognormal lifetime distribution

  1. Balakrishnan, N.
  2. Jaenada, M.
  3. Pardo, L.
Revista:
Journal of Computational and Applied Mathematics

ISSN: 0377-0427

Año de publicación: 2024

Volumen: 437

Tipo: Artículo

DOI: 10.1016/J.CAM.2023.115483 GOOGLE SCHOLAR lock_openAcceso abierto editor
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