A study of the electronic states of NixMn3-xO 4+δ thin films using scanning tunneling microscopy and current imaging tunneling spectroscopy

  1. Basu, A.
  2. Brinkman, A.W.
  3. Schmidt, R.
  4. Klusek, Z.
  5. Kowalczyk, P.
  6. Datta, P.K.
Revista:
Journal of the European Ceramic Society

ISSN: 0955-2219

Año de publicación: 2004

Volumen: 24

Número: 6

Páginas: 1149-1152

Tipo: Artículo

DOI: 10.1016/S0955-2219(03)00586-7 GOOGLE SCHOLAR
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