The Optimization of a 4-Element Input Lens on a Hemispherical Deflector Analyzer Using SIMION

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Revista:
Microscopy and Microanalysis

ISSN: 1435-8115,  1431-9276

Año de publicación: 2015

Volumen: 21

Número: S4

Páginas: 148-153

Tipo: Artículo

DOI: 10.1017/S143192761501329X GOOGLE SCHOLAR
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