High-resolution transmission electron microscopic analysis of porous silicon/silicon interface

  1. Martín-Palma, R.J.
  2. Pascual, L.
  3. Landa, A.
  4. Herrero, P.
  5. Martínez-Duart, J.M.
Revista:
Applied Physics Letters

ISSN: 0003-6951

Any de publicació: 2004

Volum: 85

Número: 13

Pàgines: 2517-2519

Tipus: Article

DOI: 10.1063/1.1797558 GOOGLE SCHOLAR
Font de les dades: Scopus