Validity of Thin Element Approximation in diffractometry of opaque thick objects

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Revista:
Optik

ISSN: 0030-4026

Año de publicación: 2024

Volumen: 311

Tipo: Artículo

DOI: 10.1016/J.IJLEO.2024.171900 GOOGLE SCHOLAR lock_openAcceso abierto editor
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