Robust inference for an interval-monitored step-stress experiment with competing risks for failure with an application to capacitor data

  1. Balakrishnan, N.
  2. Jaenada, M.
  3. Pardo, L.
Revista:
Computers and Industrial Engineering

ISSN: 0360-8352

Año de publicación: 2024

Volumen: 197

Tipo: Artículo

DOI: 10.1016/J.CIE.2024.110536 GOOGLE SCHOLAR lock_openAcceso abierto editor
Fuente de los datos: Scopus