Métodos de caracterización espectral de la emisión de láseres de semiconductor

  1. GARCIA VICENTE DE VERA ENRIQUE

Defence university: Universidad Complutense de Madrid

Year of defence: 1990

Committee:
  1. Francisco Sánchez Quesada Chair
  2. Germán González Díaz Secretary
  3. Javier Pelayo Committee member
  4. Miguel Angel Muriel Fernandez Committee member
  5. José Luis Escudero Soto Committee member

Type: Thesis

Teseo: 25026 DIALNET

Abstract

ESTE TRABAJO TIENE COMO OBJETIVO FUNDAMENTAL EL DESARROLLO DE METODOS DE CARACTERIZACION DE LAS PROPIEDADES ESPECTRALES DE LOS LASERES DE SEMICONDUCTOR MAS INTERESANTES PARA LAS APLICACIONES EN COMUNICACION COTERENTES, EN CONCRETO LAS CARACTERISTICAS DE MODULACION EN FRECUENCIA Y LA ANCHURA ESPECTRAL MONOMODO. PARA AQUELLAS SE ESTA DESARROLLADO UN NUEVO METODO DE MEDIDA, BASADO EN UN EFECTO DEBIDO A LA PRESENCIA DE UNA CAVIDAD EXTERNA PASIVA. TAMBIEN SE HA DESARROLLADO UN MODELO TEORICO CAPAZ DE DESCRIBIR ESTE EFECTO.