Métodos de caracterización espectral de la emisión de láseres de semiconductor

  1. GARCIA VICENTE DE VERA ENRIQUE

Universidade de defensa: Universidad Complutense de Madrid

Ano de defensa: 1990

Tribunal:
  1. Francisco Sánchez Quesada Presidente
  2. Germán González Díaz Secretario
  3. Javier Pelayo Vogal
  4. Miguel Angel Muriel Fernandez Vogal
  5. José Luis Escudero Soto Vogal

Tipo: Tese

Teseo: 25026 DIALNET

Resumo

ESTE TRABAJO TIENE COMO OBJETIVO FUNDAMENTAL EL DESARROLLO DE METODOS DE CARACTERIZACION DE LAS PROPIEDADES ESPECTRALES DE LOS LASERES DE SEMICONDUCTOR MAS INTERESANTES PARA LAS APLICACIONES EN COMUNICACION COTERENTES, EN CONCRETO LAS CARACTERISTICAS DE MODULACION EN FRECUENCIA Y LA ANCHURA ESPECTRAL MONOMODO. PARA AQUELLAS SE ESTA DESARROLLADO UN NUEVO METODO DE MEDIDA, BASADO EN UN EFECTO DEBIDO A LA PRESENCIA DE UNA CAVIDAD EXTERNA PASIVA. TAMBIEN SE HA DESARROLLADO UN MODELO TEORICO CAPAZ DE DESCRIBIR ESTE EFECTO.