Métodos de caracterización espectral de la emisión de láseres de semiconductor

  1. GARCIA VICENTE DE VERA ENRIQUE

Université de défendre: Universidad Complutense de Madrid

Année de défendre: 1990

Jury:
  1. Francisco Sánchez Quesada President
  2. Germán González Díaz Secrétaire
  3. Javier Pelayo Rapporteur
  4. Miguel Angel Muriel Fernandez Rapporteur
  5. José Luis Escudero Soto Rapporteur

Type: Thèses

Teseo: 25026 DIALNET

Résumé

ESTE TRABAJO TIENE COMO OBJETIVO FUNDAMENTAL EL DESARROLLO DE METODOS DE CARACTERIZACION DE LAS PROPIEDADES ESPECTRALES DE LOS LASERES DE SEMICONDUCTOR MAS INTERESANTES PARA LAS APLICACIONES EN COMUNICACION COTERENTES, EN CONCRETO LAS CARACTERISTICAS DE MODULACION EN FRECUENCIA Y LA ANCHURA ESPECTRAL MONOMODO. PARA AQUELLAS SE ESTA DESARROLLADO UN NUEVO METODO DE MEDIDA, BASADO EN UN EFECTO DEBIDO A LA PRESENCIA DE UNA CAVIDAD EXTERNA PASIVA. TAMBIEN SE HA DESARROLLADO UN MODELO TEORICO CAPAZ DE DESCRIBIR ESTE EFECTO.