Métodos de caracterización espectral de la emisión de láseres de semiconductor

  1. GARCIA VICENTE DE VERA ENRIQUE

Defentsa unibertsitatea: Universidad Complutense de Madrid

Defentsa urtea: 1990

Epaimahaia:
  1. Francisco Sánchez Quesada Presidentea
  2. Germán González Díaz Idazkaria
  3. Javier Pelayo Kidea
  4. Miguel Angel Muriel Fernandez Kidea
  5. José Luis Escudero Soto Kidea

Mota: Tesia

Teseo: 25026 DIALNET

Laburpena

ESTE TRABAJO TIENE COMO OBJETIVO FUNDAMENTAL EL DESARROLLO DE METODOS DE CARACTERIZACION DE LAS PROPIEDADES ESPECTRALES DE LOS LASERES DE SEMICONDUCTOR MAS INTERESANTES PARA LAS APLICACIONES EN COMUNICACION COTERENTES, EN CONCRETO LAS CARACTERISTICAS DE MODULACION EN FRECUENCIA Y LA ANCHURA ESPECTRAL MONOMODO. PARA AQUELLAS SE ESTA DESARROLLADO UN NUEVO METODO DE MEDIDA, BASADO EN UN EFECTO DEBIDO A LA PRESENCIA DE UNA CAVIDAD EXTERNA PASIVA. TAMBIEN SE HA DESARROLLADO UN MODELO TEORICO CAPAZ DE DESCRIBIR ESTE EFECTO.