Study of growth hillocks in GaN:Si films by electron beam induced current imaging
- Herrera Zaldivar, M.
- Fernández, P.
- Piqueras, J.
ISSN: 0021-8979
Ano de publicación: 2001
Volume: 90
Número: 2
Páxinas: 1058-1060
Tipo: Artigo
ISSN: 0021-8979
Ano de publicación: 2001
Volume: 90
Número: 2
Páxinas: 1058-1060
Tipo: Artigo