Characterization of parasitics in microwave devices by comparing S and noise parameter measurements with two different on wafer calibration techniques

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Revista:
Conference Record - IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference

Año de publicación: 2001

Volumen: 1

Páginas: 530-533

Tipo: Artículo

DOI: 10.1109/IMTC.2001.928875 GOOGLE SCHOLAR
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