Influence of randomness during the interpretation of results from single-event experiments on SRAMs

  1. Franco, F.J.
  2. Clemente, J.A.
  3. Mecha, H.
  4. Velazco, R.
Revista:
IEEE Transactions on Device and Materials Reliability

ISSN: 1558-2574,  1530-4388

Año de publicación: 2019

Volumen: 19

Número: 1

Páginas: 104-111

Tipo: Artículo

DOI: 10.1109/TDMR.2018.2886358 GOOGLE SCHOLAR
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