Sensitivity Characterization of a COTS 90-nm SRAM at Ultralow Bias Voltage

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Revista:
IEEE Transactions on Nuclear Science

ISSN: 0018-9499

Año de publicación: 2017

Volumen: 64

Número: 8

Páginas: 2188-2195

Tipo: Artículo

DOI: 10.1109/TNS.2017.2682984 GOOGLE SCHOLAR
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