Statistical Anomalies of Bitflips in SRAMs to Discriminate SBUs from MCUs

  1. Clemente, J.A.
  2. Franco, F.J.
  3. Villa, F.
  4. Baylac, M.
  5. Rey, S.
  6. Mecha, H.
  7. Agapito, J.A.
  8. Puchner, H.
  9. Hubert, G.
  10. Velazco, R.
Revista:
IEEE Transactions on Nuclear Science

ISSN: 0018-9499

Año de publicación: 2016

Volumen: 63

Número: 4

Páginas: 2087-2094

Tipo: Artículo

DOI: 10.1109/TNS.2016.2551263 GOOGLE SCHOLAR
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