Degradation of Instrumentation Amplifiers Due to the Nonionizing Energy Loss Damage

  1. Franco, F.J.
  2. Lozano, J.
  3. Santos, J.P.
  4. Agapito, J.A.
Revista:
IEEE Transactions on Nuclear Science

ISSN: 0018-9499

Año de publicación: 2003

Volumen: 50

Número: 6 II

Páginas: 2433-2440

Tipo: Aportación congreso

DOI: 10.1109/TNS.2003.820628 GOOGLE SCHOLAR
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