A nondestructive method for measuring thermal parameters of hermetically sealed electron devices
- Alieva, T.D.
- Akhundova, N.M.
- Abdinov, D.Sh.
ISSN: 0020-4412
Año de publicación: 2000
Volumen: 43
Número: 1
Páginas: 143-144
Tipo: Artículo
ISSN: 0020-4412
Año de publicación: 2000
Volumen: 43
Número: 1
Páginas: 143-144
Tipo: Artículo