Characterization of charged defects in CdxHg1-xTe and CdTe crystals by electron beam induced current and scanning tunneling spectroscopy

  1. Panin, G.
  2. Díaz-Guerra, C.
  3. Piqueras, J.
Revista:
Applied Physics Letters

ISSN: 0003-6951

Año de publicación: 1998

Volumen: 72

Número: 17

Páginas: 2129-2131

Tipo: Artículo

DOI: 10.1063/1.121298 GOOGLE SCHOLAR
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