Epitaxial integration of CoFe 2 O 4 thin films on Si (001) surfaces using TiN buffer layers
- Prieto, P.
- Marco, J.F.
- Prieto, J.E.
- Ruiz-Gomez, S.
- Perez, L.
- del Real, R.P.
- Vázquez, M.
- de la Figuera, J.
Revista:
Applied Surface Science
ISSN: 0169-4332
Any de publicació: 2018
Volum: 436
Pàgines: 1067-1074
Tipus: Article