Epitaxial integration of CoFe 2 O 4 thin films on Si (001) surfaces using TiN buffer layers

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Zeitschrift:
Applied Surface Science

ISSN: 0169-4332

Datum der Publikation: 2018

Ausgabe: 436

Seiten: 1067-1074

Art: Artikel

DOI: 10.1016/J.APSUSC.2017.12.111 GOOGLE SCHOLAR