Study of ion-implantation damage in GaAs:Be and InP:Be using Raman scattering
- Rao, C.S.R.
- Sundaram, S.
- Schmidt, R.L.
- Comas, J.
ISSN: 0021-8979
Año de publicación: 1983
Volumen: 54
Número: 4
Páginas: 1808-1815
Tipo: Artículo
Revista:
Journal of Applied Physics