Statistical algorithm to obtain refractive index and thickness from spectrophotometric interference patterns

  1. Carreño, F.
  2. Bernabeu, E.
Actas:
Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering

ISSN: 1996-756X,  0277-786X

ISBN: 9780819417060

Año de publicación: 1995

Volumen: 2208

Páginas: 77-87

Tipo: Aportación congreso

DOI: 10.1117/12.213171 GOOGLE SCHOLAR
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