Spectroscopic ellipsometry of non-absorbing films independent of film thickness

  1. Martínez-Antón, J.C.
  2. Gómez-Pedrero, J.A.
Revista:
Applied Surface Science

ISSN: 0169-4332

Año de publicación: 2002

Volumen: 193

Número: 1-4

Páginas: 268-276

Tipo: Artículo

DOI: 10.1016/S0169-4332(02)00494-4 GOOGLE SCHOLAR
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