Accuracy of the thin metallic wires diameter using Fraunhofer diffraction technique

  1. Serroukh, I.
  2. Martínez-Antón, J.C.
  3. Bernabeu, E.
Revista:
Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering

ISSN: 0277-786X

Any de publicació: 2000

Volum: 4099

Número: 1

Pàgines: 255-266

Tipus: Article

DOI: 10.1117/12.405827 GOOGLE SCHOLAR
Font de les dades: Scopus