Analytical reliability estimation of SRAM-based FPGA designs against single-bit and multiple-cell upsets

  1. Ramezani, R.
  2. Clemente, J.A.
  3. Franco, F.J.
Revista:
Reliability Engineering and System Safety

ISSN: 0951-8320

Año de publicación: 2020

Volumen: 202

Tipo: Artículo

DOI: 10.1016/J.RESS.2020.107036 GOOGLE SCHOLAR
Fuente de los datos: Scopus