Robust inference for one-shot device testing data under exponential lifetime model with multiple stresses

  1. Balakrishnan, N.
  2. Castilla, E.
  3. Martín, N.
  4. Pardo, L.
Revista:
Quality and Reliability Engineering International

ISSN: 1099-1638,  0748-8017

Año de publicación: 2020

Volumen: 36

Número: 6

Páginas: 1916-1930

Tipo: Artículo

DOI: 10.1002/QRE.2665 GOOGLE SCHOLAR

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