Particle alignment reliability in single particle electron cryomicroscopy: A general approach

  1. Vargas, J.
  2. Otón, J.
  3. Marabini, R.
  4. Carazo, J.M.
  5. Sorzano, C.O.S.
Revista:
Scientific Reports

ISSN: 2045-2322

Año de publicación: 2016

Volumen: 6

Tipo: Artículo

DOI: 10.1038/SREP21626 GOOGLE SCHOLAR lock_openAcceso abierto editor
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